封装是半导体集成电路芯片制造的最后关键部分,由于封装的失效会导致整个芯片的报废,因此封装可靠性和失效问题就显得特别重要,许多芯片失效的根本原因实质上为多项物理综合作用的力学问题,本项目将提出芯片封装的电子漂移和瞬态热循环应力的计算方法。拟建立封装锡球连接的电子漂移形成的缺陷物理与力学模型,并建立电子漂移缺陷在瞬态热应力作用下的裂纹扩展疲劳算法。提出电子漂移与瞬态热问题计算格式,实现对非线性问题和多
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数据更新时间:2023-05-31
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