利用同步辐射X射线掠入射衍射等实验方法,结合透射电镜、原子力显微镜等其它现代治鍪侄危圆煌ひ仗跫律ず筒煌跫淼腉eSi量子点材料样品进行系统的实验测浚治銎渲蠫eSi量子点的形态、成分以及应变驰豫状态;结合物性测量,探讨量子点材料锢硇阅艿奈⒐劢峁够。罢液陀呕孔拥悴牧系闹票腹ひ仗峁┛蒲б谰莺途咛逯傅肌?..
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数据更新时间:2023-05-31
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