同步辐射X射线高分辨粉末衍射技术及其应用

在北京同步辐射装置上，对五圆衍射仪上的前后狭缝、探测器半径距离、步进角大小、累计计数时间等条件进行了调节与比较，获得了扫描计数实验的最佳方案，对标准硅粉的衍射半高宽远好于常规光源的分辨率。基本建立起了扫描计数的实验方法，根据北京同步辐射光源的实际情况，首次利用平面成像板探测器进行了X射线高分辨粉末衍射实验研究：增加了入射光强度监视器和成像板三维支架，改进了衍射仪的样品架，加工了两套新的样品台，以适应毛细管和平板粉末两种不同样品的需要。并建立了一套数据获取和分析软件；引进了几个分析程序，建立起了合适的数据分析系统。在现有北京同步辐射光源条件下获得较好的实验结果，并初步实现对用户开放。