掠入射小角X射线散射/衍射多功能平台和技术研究

量子点（线）、光电池电极、催化薄膜、高聚物纳米薄膜等新型薄膜材料微结构的表征是当代材料科学领域十分重要的研究课题。传统X射线（XRD、SAXS等）和电镜（AFM、TEM、SEM等）等测量方法在表征这些表面薄膜内部纳米尺度微结构时通常存在很多局限。随着同步辐射X射线的发展，掠入射小角X射线散射和衍射近年来在薄膜材料微结构表征方面得到了迅速发展，并成为以上测量方法很好的补充。本项目通过在北京同步辐射装置上设计安装多功能样品平台和探测器支撑控制系统，深入开展基于同步辐射的掠入射小角X射线散射及其与衍射方法的联合实验测量研究，为表征薄膜材料表面/界面微结构和内部纳米颗粒尺寸、形状和分布等微结构信息提供有效的测量手段；结合纳米薄膜材料（颗粒膜、量子点、高聚物纳米颗粒复合薄膜等）的实验研究，发展完善相应的数据分析和理论模拟技术，为国内广大同步辐射用户在薄膜微结构表征方面提供一个高效实用的实验研究平台。