电化学间接超精细抛光新技术的研究

基本信息
批准号:59605017
项目类别:青年科学基金项目
资助金额:12.00
负责人:祖延兵
学科分类:
依托单位:厦门大学
批准年份:1996
结题年份:1999
起止时间:1997-01-01 - 1999-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:谢雷,黄寅,陈东英
关键词:
电化学间接抛光约束刻蚀剂层技术
结项摘要

利用约束刻蚀剂层技术(CELT)的原理,实现了电化学间接技术对半导体材料的超精细抛光。探索了几种电化学平整模板的制作工艺及性质。采用NaOH中和在O-IV恒电位条件下制得的TiO2膜电极性质稳定,光电转换效率高,且表面平整。采用钛酸乙酯热分解法制得TiO2薄膜,其表面颗粒直径在50纳米左右。并表现出纳米颗粒独特的光电化学特性。对刻蚀体系的详细研究表明,在对半导体硅进行抛光时,溴/亚砷酸体系较为全适;而对于砷化镓,溴/丙烯酸体系效果最好。与哈尔滨工业大学合作研制了新一代的CELT技少加工装置。对硅和砷化镓的电化学抛光工艺进行了研究。抛光前后硅的表面粗糙度Ra值分别为30.6nm和4.1nm;砷化镓分别为18.1nm和0.7nm。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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