微处理器自修复设计基础技术研究

本项目选择微处理器为实验对象，研究数字VLSI电路的自测试-自诊断-自修复方法和技术，研制一款具有自修复功能的微处理器。在方法学上侧重于研究：⑴动态故障建模及自测试（BIST）方法，根据不同类型存储器物理缺陷的机理，建立合理的动态故障模型；⑵面向修复的自诊断（BISD）方法，在复杂故障类型下，准确判定需要保存的地址信息；⑶硬件冗余与信息冗余相结合的自修复（BISR）方法，考虑硬件冗余与信息冗余问题的数学建模及优化算法。在实验研究方面，结合一款微处理器设计，开展故障注入方法与自测试、自诊断、自修复方法的实验研究。本项目将在微处理器自测试-自诊断-自修复方面提出创新方法和关键技术，选择0.18u工艺投片（对于片内SRAM上不多于10个固定型故障，具有100%修复率）。对微处理器设计制造领域迫切需要解决的成品率和可靠性问题，提供经过真实电路检验的微处理器自修复设计方法。