拟研究随机过程(包括随机场)的样本轨道的维数与测度问题(尤其侧重Lery过程及高斯场的维数与测度)、随机测度的重分形谱分解和分形渗流过程。目前随机分形理论是国际学术界一个很活跃的课题,它具有深刻的理论意义及广泛的应用前景。渗流理论则有很强的物理背景,它与分形理论的结合将产生深刻的数学结果并能应用于某些物理学分支。.
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数据更新时间:2023-05-31
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