类金刚石薄膜为绝缘埋层的SOI新材料研究

基本信息
批准号:60576014
项目类别:面上项目
资助金额:22.00
负责人:刘卫丽
学科分类:
依托单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
批准年份:2005
结题年份:2008
起止时间:2006-01-01 - 2008-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:沈勤我,狄增峰,朱鸣,詹达,骆苏华,王石冶
关键词:
智能剥离自加热效应类金刚石薄膜绝缘体上硅
结项摘要

SOI是微纳电子的主流技术。为克服常规SOI材料因二氧化硅埋层导热性较差而产生的自加热效应,本项目提出以导热性能较好并有较好电学性能的类金刚石薄膜为SOI的绝缘埋层。研究高质量稳定类金刚石薄膜的制备及其相应的物理化学原理,掌握类金刚石薄膜和硅表面之间的低温键合技术,并深入研究与键合界面相关的物理化学过程,采用智能剥离的方法制备出以类金刚石薄膜为埋层的SOI新材料,为提高SOI器件性能,拓宽SOI应用范围提供材料基础。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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