ＭＭＩＣ片芯测试技术的研究

完成了“MMIC在片测试”的理论和技术研究工作。研制成功了测试探头—“在片测试”的关键—的样品，其主要技术性能已达到预期的研究目标和美国CASCADE公司同类产品的水平。“探头”的研制成功，表明我们已经掌握了该探头的工作原理、分析理论、设计和制作方法以及测试技术；同时，在电磁场数值解技术和不均匀传输线理论方面。提出了一种新型的、基于积分方程矩量法的、能处理任意形式（TEM波类）传输线的数值解法和通用分析程序；提出了开域电磁场问题的“全域数值边界条件”及其在偏微分方程有限元解中的应用：提出了一种新型不均匀传输线的电路理论—“虚拟波理论”。