晶粒和粒子平均体积、分布宽度和拓扑特性的无偏测估

基于材料体视学研究成果，为材料科学提供了用于晶粒和粒子三维尺坟分布和拓扑参量分布的一组无偏测估新方法，效率远优于各传统方法。采用经典系列截面法分析了1292个晶粒，提供了极珍贵的三维实际晶粒尺寸及拓扑参量一整套实测数据（国内外要用此法分析晶粒无过百者），证实了诸新方法的有效性，并首次确定晶粒界面数与其邻晶对应值间的函数关系。首次从理论上揸出国际上广为采用的Man-delbrot周长—面积法和国内提出的周长—最大直径法测分形维数失稳的根据本原因，为正确评价和利用国内外10余年来断口及晶粒组织分形研究结果提供了重要判据。提出广义逆体视学原理和晶界上粒子邻接度参量，为粒子间及与晶界间几何交互作用定量描述开辟了新途径。