基于嵌入式内核SOC系统芯片测试方法研究

本项目进行系统芯可测试设计、低功耗测试、测试数据压缩算法和解压结构研究。采用整数线性规划对系统芯片测试访问结构优化。低功耗测试可有效地保护器件，提高器件可靠性。测试数据压缩可减小对测试设备的需求，降低测试价格和实现快的上市时间。此研究可提高系统芯片的可测试性和可靠性，改善故障覆盖率。理论上和实践上都有重要意义。