嵌核系统芯片测试方法研究
基本信息
批准号：60073032
项目类别：面上项目
资助金额：15.00
负责人：黄维康
学科分类：
依托单位：复旦大学
批准年份：2000
结题年份：2003
起止时间：2001-01-01 - 2003-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：杨连兴,司派发,熊志平
关键词：
系统测试集成电路测试
结项摘要
单芯片系统（System on Chip）的设计开始大量的使用IP核。这种系统芯片称为嵌核系统芯片（Embedded-Core Based System）。本项目研究IP核和嵌核系统芯片的测试，提出解决嵌核系统测试的有效途径。本研究工作对于我国集成电路特别是采用亚微米和深亚微米技术后集成电路的实际和生产具有重要意义。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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