针对纳米尺度CMOS的集成电路超浅结工艺需求,以局域化分子动力学的方法模拟低能团簇离子注入,以动力学蒙特卡罗方法模拟闪光灯退火的杂质扩散和杂质激活,将其应用于粗糙栅边沿的源漏扩展区的掺杂模拟,开发应用于下一代的浅结工艺的原子模型的模拟方法和TCAD软件,为浅结工艺开发和纳米尺度CMOS器件研究提供帮助。
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数据更新时间:2023-05-31
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