在研究通用的静态随机访问存储器(SRAM)的基础上,研究低成本高安全性SRAM的结构以提高SRAM的抗攻击性能,同时,仍然保留SRAM低功耗高带宽的优点。本课题的目标是针对高安全性SRAM的可信设计和抗攻击机制研究,重点是从电路设计上彻底解决通用SRAM 在掉电情况下的信息残留问题,达到从物理层面上防止SRAM存储的机密信息被攻击的目的。为此,本课题基于90nm标准 CMOS混合信号工艺技术,提出了两种可以彻底解决SRAM信息残留问题的设计方法- - 消除6-管SRAM锁存单元中的数据电荷的方法和清零或改写SRAM存储信息的方法。这两种设计方案具有电路拓扑结构简单、易于与SRAM集成的优点。.本课题的研究成果可以为安全SRAM的设计和实现提供理论基础,将对金融、国防和军事等领域的信息安全产生积极而重要的影响。
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数据更新时间:2023-05-31
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