基于多目标进化算法的内建自测试（BIST）优化设计技术研究

在保证故障覆盖率的前提下，采用多目标进化算法对测试矢量和测试功耗进行协同优化操作，得到一种能够同时降低测试序列长度和测试功耗的BIST（Built-in Self-test,内建自测试）测试生成方法，并通过EDA工具和ISCAS基准电路的仿真验证。研究内容包括测试生成结构、权重集生成、低功耗BIST设计、加权测试生成结构优化、基于多目标进化算法的低功耗加权BIST设计等。按照软硬件结构设计、数学模型与实验仿真验证相结合的思路，以ISCAS基准电路为被测对象，先采用几种不同的权重生成法和低功耗设计进行基于进化算法的优化研究，重点放在加权测试矢量优化与低功耗BIST设计中重组测试矢量施加顺序等测试生成策略上，解决测试结构优化、功耗代价函数设置、进化算法收敛性、硬件占用等关键技术问题。然后进行基于多目标进化算法的测试矢量生成与低功耗BIST的一致性优化设计，达到预期的研究目标。