量子点中带电粒子系统能谱的研究

采用少体物理的方法，研究半导体量子点中的少电子系统、激子、带电荷激子及多激子的束缚能和低激发态能谱，通过引入杂质和外场改变量子点中带电粒子系统的能谱，从而取得量自尺寸效应和外场效应的特征曲线，进一步将研究电声相互作用和量子点的形状对能谱的影响，研究双层量子点中少电子系统的基态跃迁，由量子力学对称性提示出其内在原因。