微处理器IP核的指令级可测试性设计技术

本项目将对微处理器指令级的可测试性进行分析，在微处理器指令系统设计中，增加若干面向测试的指令，达到缩短测试程序长度和提高故障覆盖率的算法，作为测试指令选取的依据，同时增加的测试指令要尽可能不增加微处理器的数据通路。本项目的研究对于国内微处理器IP核的开发和应用有重要意义。