发展已有的对聚电解质在荷电表面上吸附的简单标度理论预测,将其扩展到具有末端效应和反离子聚沉现象的情况, 这一推广对描述真实聚电解质吸附构象具有重要意义。同时利用分子水平上的计算机模拟手段, 可以形象地揭示荷电表面上聚电解质的长程相互作用与构象特征的关系, 对上述理论及其推广进行定量比对。同时通过自己改装一套光散射系统, 在线表征荷电表面的电荷密度与吸附层厚度的关系, 期望与本项目的理论预测和计算机
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数据更新时间:2023-05-31
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