高技术新材料原子分辨率晶体缺陷研究

借助本组近年建立的场发射高分辨电子显微像图像处理方法，校正像中高分辨率的畸变结构信息，得出半导体、超导体等材料的块材和薄膜中原子水平晶体缺陷的直观图像，并进一步发展该图像处理方法，以达到充分利用新一代场发射枪电镜有高信息分辨极限的特点，为探索材料结构与性能之间关系提供其它方法所得不到的原子分辨率晶体缺陷资料。