目前有些长寿命核素半衰期值具有相当大的不确定性。为此,该项目开展加速器质谱方法(AMS)测定这些半衰期的研究,首先对(79)Se和(126)Sn半衰期的测定研究。在目前的核素图表中(79)Se半衰期有为一上限值<6.5×10(4)年,而(126)Sn半衰期值为10(5)年数量级范围。利用现有AMS测量(79)Sn和(126)Sn的主要难点在于用常规的能量损失率法不能将这些同量异位素干扰排除。我们通过测定(81)Br求得(79)Se的同量异位素(79)Br,通过测定(128)Te求得(126)Te。测定的(79)Se半衰期值为1.1×10(6)年,较之当今公布的值高约一个数量级。对当今值的原始数据进行了考查,表明当今的引用值是错误,已有40年历史。测定的(126)Sn半衰期值为2.1×10(6)年。我们的研究结果表明该项研究是十分有价值的。
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数据更新时间:2023-05-31
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