异质半导体纳米线阵列的结构与性质

采用场发射扫描电镜和高分辨透射电镜观察异质半导体纳米线阵列的形貌和结构图像，并测试界面处的能量色散X光谱和阴极荧光谱：用高空间分辨率的电子能谱测量界面处组分分布、化学位移；测量其光吸收、电流—电压、电容—电压、光电流和光电容等特性。用第一原理赝势法模拟计算其晶格结构和电子结构。为有效控制结构、挖掘应用提供科学依据。