同步辐射软X射线偏振测量基础技术研究

基本信息
批准号:10435050
项目类别:重点项目
资助金额:160.00
负责人:王占山
学科分类:
依托单位:同济大学
批准年份:2004
结题年份:2008
起止时间:2005-01-01 - 2008-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:朱杰,付绍军,秦树基,赵屹东,王劼,鲁鸿雁,孙立娟,徐向东,王洪昌
关键词:
多层膜同步辐射软X射线偏振磁圆二色
结项摘要

近年来,测量不同材料(尤其是磁性和生命物质)对入射偏振软X射线强度和偏振状态的变化已成为越来越多同步辐射中心研究的热点。这一工作的深入和发展开创了一些新的实验方法,如:软X射线磁圆二色测量、软X射线元素分辨法拉第效应和克尔效应测量等,这些方法为生物、医学、信息、材料、物理与化学等学科提供了强有力的研究工具。目前,国内同步辐射装置上还没有进行软X射线偏振测量研究。因此,全面研究软X射线偏振元件及测试方法必将为我国开展相应波段的偏振光学研究,测量同步辐射偏振特性及其应用具有重要科学意义和应用价值。.研究软X射线偏振光学元件设计、制作和检测方法,重点探索多层膜制作,制作实用的能进行软X射线偏振实验的光学元件。研究软X射线偏振测量有关的技术,建立测量方法,研制出所需的测试装置。完成同步辐射光源偏振特性测量和偏振元件性能测试,研究磁性材料磁性圆二色特定元素的自旋磁矩、轨道磁矩和磁滞回线等。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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