电子碰撞K壳电离截面绝对测量的新方法

由于制备自支撑薄靶遇到严重的技术困难，多年以来能附近电子内壳电离截面测量结果很缺乏。我们在国际上第一次应用厚衬底薄靶技术克服了这个困难。厚衬底上产生的反射电子对薄靶电离的贡献已经应用双群模型作了仔细的输运修正。新方法得到国际同行的赞誉和支持。通过此项研究我们将得到中Z以上元素比较系统的内壳电离截面第一批测量数据。