近阈能区正电子-原子碰撞内壳层电离截面实验研究

在近阈能区(<30keV)，采用薄靶和厚靶方法，较系统地测量一批中重(Z>13)以上元素的K、L壳或其次壳层的正电子原子碰撞内壳层电离截面。改进数据处理方法，完成数据的背散射、多次散射、韧致辐射、湮没光子等效应的Monte Carlo修正，提高数据精度，取得一批目前国际上还没有的实验数据，并结合我们已开展的电子原子碰撞内壳层电离截面测量工作，检验各种理论模型，探讨轻子（电子、正电子）原子相互作用过程相关机理，以加深我们对正电子、电子-原子相互作用过程的理解，并满足实际应用的需要。