本项目利用离子束沟道扫描技术,借助于计算机Monte Carlo 模拟计算,研究碳、氮、氧、氟等轻元素的掺杂对铒在硅晶体中微观结构的影响,通过对所得结果与已有的相关光学性质的比较,得出铒在硅中的微观结构与其发光特性的联系。.该项目的研究意义在于其成果有助于搞清楚铒掺杂于硅晶体中发光的物理机制,为理清目前在这一问题上的混乱局面以及Si:Er发光技术的进一步开展提供有力的依据,从而为未来以硅为基体的光电器件的研制奠定基础。
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数据更新时间:2023-05-31
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