用单轴和各向同性应力下的结谱法研究半导体杂质与缺陷
基本信息
批准号：68776032
项目类别：面上项目
资助金额：3.00
负责人：姚秀琛
学科分类：
依托单位：北京大学
批准年份：1987
结题年份：1990
起止时间：1988-01-01 - 1990-01-01
项目状态： 已结题
项目参与者：
关键词：
***
结项摘要
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项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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