如何在纳米尺度上直接测量纳米结构中的物理化学及量子输运特性,是目前半导体自旋电子学和新型纳米器件研究所面临的、迫切需要解决的难题。传统的SPM技术因其功能单一而不能满足这方面的需求。本项目将要研制的工作在极端条件下且具有独立精确定位功能的双探针AFM系统,每个探针不仅可用于成像,还可用作纳米电极、局域电荷和自旋的注入与探测等,并且弥补了双探针STM系统的不足,因而较好地解决了这个问题。整个系统将由
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数据更新时间:2023-05-31
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