如何在纳米尺度上直接测量纳米结构中的物理化学及量子输运特性,是目前半导体自旋电子学和新型纳米器件研究所面临的、迫切需要解决的难题。传统的SPM技术因其功能单一而不能满足这方面的需求。本项目将要研制的工作在极端条件下且具有独立精确定位功能的双探针AFM系统,每个探针不仅可用于成像,还可用作纳米电极、局域电荷和自旋的注入与探测等,并且弥补了双探针STM系统的不足,因而较好地解决了这个问题。整个系统将由
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数据更新时间:2023-05-31
基于一维TiO2纳米管阵列薄膜的β伏特效应研究
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双吸离心泵压力脉动特性数值模拟及试验研究
碳纳米管自旋电子学器件研究
纳米分辨率的扫描探针光声显微镜
扫描探针显微镜制备纳米样板及其量值溯源的研究
有机自旋电子学器件的界面分析和界面修饰