成品半导体器件结温不均匀性测试仪的研究
基本信息
批准号：69946001
项目类别：专项基金项目
资助金额：20.00
负责人：苗庆海
学科分类：
依托单位：山东大学
批准年份：1999
结题年份：1999
起止时间：1999-01-01 - 1999-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：杨洪,张兴华,苗原,满昌峰,杨列勇
关键词：
结温不均匀性热阻可靠性
结项摘要
半导体器件的结温高低和结温均匀性是影响其可靠性的两大重要因素。结温不均匀到一定程度，器件就会行将失效或立即失效。红外热相仪不能测量成品器件的结温，现行的热阻仪，快速筛选仪及美军标准都把器件当作结温均匀来处理，不能测量不均匀度。本研究根据结温不均匀性模型，通过实验模拟和理论计算，可得到最高结温到最低结温之间的温度分布。.
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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