椭圆偏振方法是获取各种信息功能材料的光学性质、光学常数和薄膜厚度的最有效和最可靠的方法之一。本项目拟开展的研究工作包括验证一种先进椭圆偏振测量原理,完善其中涉及的一些测量技术,包括研制可控温度样品盒等,最后建立一种样品测量温度可控偏振态并行测量的椭圆偏振测量系统。运用该系统对各种信息功能薄膜的光学参数及其随温度的变化规律展开系统的研究。通过该项目研究努力在纳米结构光学信息功能材料的光学参数的温度变化规律及纳米金属薄膜材料的表面等离子体振荡效应方面取得富有创新的成果,研究结果将为信息功能器件及亚波长尺度光子器件的探索和开发建立科学基础,提供技术支撑。
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数据更新时间:2023-05-31
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