本课题证实了SiGe合金氧化后所形成氧化层厚度为所消耗的SiGe合金的2.25倍。发现了氧化温度为900℃时氧化速度最快,900℃是氧化的临界温度。当Ge的成份大于或等于50%时氧化温度大于900℃时Ge不参加氧化层和SiGe合金的界面堆积,温度小于900℃时Ge参加氧化。我们提出了这一现象的模型。为了形成纯的SiO2,我们在样品升温过程用氮气保护,避免Ge在升温时氧化。利用实验结果计算了SiGe阵列的柱体尺寸及柱体间的距离。实验表明800nm的SiGe柱氧化后可形成90nm的SiGe合金埋入SiO2层中。
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数据更新时间:2023-05-31
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