高功率Z箍缩产生keV级特征X射线技术研究

高功率Z箍缩产生keV级特征X射线可以用于各种强脉冲X射线效应和材料特性研究，具有重要的需求背景和应用前景。国内在高功率Z箍缩技术方面的研究尚处于起步阶段，近三年来，利用"强光一号"开展了高功率Z箍缩技术研究，获得X射线总能量达到60kJ，但光子能量大部分集中在200～400eV之间，距离开展冷X射线辐射效应模拟研究还有很大的差距，尚缺少光子能量为keV以上的高功率等离子体辐射源。本课题主要研究采用高功率Z箍缩技术产生keV级特征X射线辐射的物理机理，利用强光一号加速器Z箍缩产生keV级特征X射线辐射的实验方法，通过数值模拟与实验调控相结合的方法，研究提高Z箍缩产生keV级特征X射线辐射产额的技术途径，同时研究高功率Z箍缩产生的keV级特征X射线辐射的诊断方法并研制相应的诊断设备，为今后研制更大规模的脉冲冷X射线辐射模拟设备奠定技术基础。