容错纠错设计理论与方法及其在IC制造装备中的应用研究

基本信息
批准号:50775027
项目类别:面上项目
资助金额:32.00
负责人:范守文
学科分类:
依托单位:电子科技大学
批准年份:2007
结题年份:2010
起止时间:2008-01-01 - 2010-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:鲁聪,李绍彬,苗强,安宗文,凌丹,杨玻玻,李登静,姬鹏升,张小丽
关键词:
纠错设计IC制造装备容错设计故障修复故障预测
结项摘要

在IC制造装备的设计中应充分考虑故障可诊断性、可修复性的要求,以便在IC制造装备的使用阶段及时预测和修复故障,提高装备的可维修性与可靠性。采用传统方法提高IC制造装备的可靠性已几乎达到极限,而容错纠错技术可以有效地提高IC制造装备的可靠性。本申请项目在深入研究现代产品设计理念、方法及现代控制理论的基础上,提出容错纠错设计的概念、技术指标和基本理论体系。通过对软件系统的数据流分析模型和信号系统的免疫监测模型的研究,探索开发新的故障防范技术;通过对冗余功能的敏捷切换、优化重构模型的研究,构建产品故障可诊断、可修复的可靠性保障技术体系;通过对多种预测模型的聚合实验研究,保证故障预测与维修决策的精度,开发容错纠错设计与仿真软件平台,为实现IC制造装备故障的容错纠错设计提供一套行之有效的理论、方法与技术。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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