非症状性智力低下与染色体亚末端异常的相关性研究

通过高分辨染色体显带技术、染色体荧光原位杂交技术及引物原位标记技术的对比研究，结合详细的临床表型，探讨引起非症状性智力低下儿童的可能病因，初步阐明国人智力低下患儿中染色体亚末端异常所占比例及各自与临床表型的关系，建立快速筛检此类患得的分子遗传学检验方法，为指导优生优育和产前诊断工作提供技术参数和可运行的实验检测方法。