用于光脉冲检测的埋藏有金属微粒的半导体薄膜
基本信息
批准号：68871017
项目类别：面上项目
资助金额：5.00
负责人：吴全德
学科分类：
依托单位：北京大学
批准年份：1988
结题年份：1991
起止时间：1989-01-01 - 1991-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：薛增泉,吴锦雷,刘惟敏,董引吾,赵兴钰,黄珏华
关键词：
金属微粒半导体薄膜
结项摘要
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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