金属/有机涂层体系腐蚀失效的半导体转变现象

本研究采用半导体电化学技术（电位-电容法、Mott-Schottky分析技术、光电化学技术）研究金属/有机涂层体系腐蚀失效过程中的半导体转变现象，以及其中载流子变化规律。结合现代微观表面分析技术（EC-AFM、EC-STM、XPS、AES等）对金属/有机涂层失效过程中微观不均匀性的变化进行在线和非在线微观检测和表征，进一步探讨该体系失效过程中微观不均匀性变化与其半导体变化及其载流子变化之间的关系。采用常规电化学技术、丝束电极技术、光电化学技术研究金属/有机涂层体系失效过程中宏观不均匀性，探讨该体系失效过程中半导体转变与其微观与宏观不均匀性之间的内在联系。通过本研究，可以探索金属/有机涂层体系的失效规律，深化对金属/有机涂层腐蚀失效过程的认识，对探索不均匀体系导电机制转变均具有重要的理论意义以及实用价值。