本项目针对未来系统芯片(SoC)测试成本非线性增加的严重挑战,提出了测试压缩率极高的Multi-capture(MC)测试,减小了测试数据传输对测试带宽的需求;结合局部扫描的测试算法,使之具备At-speed结构测试的能力。解决测试成本增加的另一有效途径是逻辑内建自测试(LBIST),本课题拟从高层测试综合的角度解决LBIST的故障覆盖率过低的问题;同样结合局部扫描测试算法,使得LBIST具备At
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数据更新时间:2023-05-31
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