平板显示器件中ITO腐蚀规律及其机理研究

基本信息
批准号:50701010
项目类别:青年科学基金项目
资助金额:12.00
负责人:蒋益明
学科分类:
依托单位:复旦大学
批准年份:2007
结题年份:2010
起止时间:2008-01-01 - 2010-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:余剑萍,唐璜,郝允卫
关键词:
可靠性平板显示器件ITO腐蚀电迁移
结项摘要

对平板显示器件中的ITO-金属的腐蚀规律及机制进行系统研究,给出腐蚀对显示器件性能影响的实验规律和防护工艺。研究杂质,酸碱,电场等因素对ITO腐蚀的影响;用电化学方法研究ITO-金属的扩散界面反应机制,ITO-有机层的界面腐蚀机制;研究电迁移加速对ITO-金属界面反应的影响;研究利用防护涂层和表面处理的方法对ITO-金属腐蚀进行有效的防护。该研究对了解ITO-金属腐蚀规律、机制以及其导致的显示器件性能降低规律具有重要的科学意义,并可为相关显示器件失效分析、寿命评估、稳定性研究、腐蚀防护工艺等提供指导。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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