聚合物基化学陷阱材料的结构及其分布与介电性能关系研究

基本信息
批准号:50373008
项目类别:面上项目
资助金额:23.00
负责人:范勇
学科分类:
依托单位:哈尔滨理工大学
批准年份:2003
结题年份:2006
起止时间:2004-01-01 - 2006-12-31
项目状态: 已结题
项目参与者:雷清泉,雷清泉,张明艳,刘立柱,张沛红,张维国,陈宇飞,衷敬和,张晶波
关键词:
化学结构陷阱局部屏蔽电场
结项摘要

合成一系列具有不同电子亲和力的化合物,并引入化学活性基团,用适当的方法把它们复合到高分子材料中去并控制其分散的密度和分布状态,如果它们的结构是稳定的,就可能吸收在外电场作用下电离产生的负离子形成稳定的局部电场,而许许多多的这样的局部场的协同作用在材料表面形成屏蔽电场使材料表面钝化,从而有效地阻止电老化向材料纵深发展。针对固体绝缘材料,我们提出利用分子(或能带)结构设计,制备一类新型稳定的化学陷阱结构材料/高分子复合物,系统地研究这些复合物的结构与介电性能之间的关系可以为研制具有特殊介电性能的绝缘材料奠定基础。

项目摘要

项目成果
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数据更新时间:2023-05-31

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