申请者提出紧缩场特征谱的概念,又分为角域谱和时域谱,认为二者分别是空域场和频域场在角域和时域的变换,载有紧缩场特征信息。基于紧缩场的谱,可以将天线测量方向图表示为其真实方向图与紧缩场角域谱的卷积,RCS测量方向图表示为其真实方向图与紧缩场角域谱自卷积的卷积,从而建立天线和RCS测量误差分析的统一数学模型。在此模型基础上,与先进的数字信号处理技术结合,对紧缩场反射面边缘处理、拼缝效应、面板精度、口径
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数据更新时间:2023-05-31
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