本项研究提出了综合光纤荧光测温和辐射测温技术的新型光纤测温技术,对于光纤端部Cr(3+)离子掺杂的氧化铝单晶光纤的生长制作技术进行了深入的探讨,生长出了掺杂离子浓度和分布适当,掺杂段和非掺杂段结合良好的光学性能优良的氧化铝单晶光纤。对于光纤端部以Cr(3+)离子掺入的氧化铝单晶光纤的荧光温度关系作了深入的研究,建立了氧化铝晶纤荧光测温系统。研制成功了大范围全程测温的新型氧化铝光纤测温系统,系统测温范围为20-1800℃,并具有较好的测试精度。全程测温光纤温度传感系统的研制成功,使能利用同一光纤探头实现从近室温到1800℃的温度测量。对于光纤测温技术应用于实际的科研和工业生产,具有积极的意义。
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数据更新时间:2023-05-31
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