基于TXRF技术的无机元素痕量分析方法研究

无机元素痕量分析在环境、材料、资源、农业及食品等领域有着重要意义，目前可采用的方法很多。综合而言，电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)和全反射X荧光(TXRF)分析技术均具有灵敏度高、检出限低、动态范围宽、能多元素分析等特点，优势较明显。ICP-MS研究与应用较多，但近些年TXRF技术在国内研究报道少，落后于国际先进水平。课题组主要成员从事TXRF研究近20年，取得较突出成绩。本项目拟在原有研究基础上，借鉴国际上最新成果，采用国产化TXRF分析仪（或应用TXRF技术的XRF分析仪），选择高纯硅材料、生物样品等有典型意义的2-3种样品，建立常规元素的TXRF痕量分析方法，选择1种待测轻元素与重元素配合进行试验，初步建立TXRF技术间接测定轻元素的方法。取得具有一定水平的应用基础研究成果，为依托TXRF技术进一步开展无机痕量分析方法研究打下良好的基础。