X射线荧光层析成像技术
基本信息
批准号：60278030
项目类别：面上项目
资助金额：23.00
负责人：高鸿奕
学科分类：
依托单位：中国科学院上海光学精密机械研究所
批准年份：2002
结题年份：2005
起止时间：2003-01-01 - 2005-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：谢红兰,陈敏,蒋诗平,陈建文,朱佩平,冼鼎昌
关键词：
同步辐射X射线荧光层析
结项摘要
X射线荧光层析是利用X射线荧光对样品进行三维层析成像，其发出的荧光光谱是受激发元素的特征谱线。它是获取生物组织、工业材料等物质中痕量元素的组成、分布信息的重要手段。本研究采用一种新方法来消除背景散射光，使散射光和荧光信号分离。既能进行荧光层析成像，又能进行基于吸收衬底机制的层析成像，还能进行荧光全息三维成像。
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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