钙钛矿薄膜/YSZ界面微结构对电输运性能的影响

采用磁控溅射方法和离子束溅射方法，在YSZ单晶衬底上生长RE1-xAExBO3系钙钛矿结构薄膜，测试其载流子浓度、迁移率，交流电导活化能、频率指数等，研究界面区电子、离子对电导率的贡献，晶粒、晶界对电导率的影响。测试界面区过渡金属d电子相互作用能、分子振动频移、斯托克斯线与反斯托克斯线、表面增强拉曼散射效应，研究界面区d电子相互作用能、分子结构的变化规律。从分子和电子结构水平研究界面效应对电输运性能的影响，优化材料性能及制备工艺，探索导电机理，对进一步改进和优化阴极材料有着重要的科学意义。