数字电路多故障测试方法与技术研究
基本信息
批准号：60006002
项目类别：青年科学基金项目
资助金额：10.00
负责人：潘中良
学科分类：
依托单位：华南师范大学
批准年份：2000
结题年份：2003
起止时间：2001-01-01 - 2003-12-31
项目状态： 已结题
项目参与者：刘琼发,吴开华,冯凤羚,李丰果,张洋祥,陈翎
关键词：
测试方法多故障数字电路
结项摘要
电路的测试目前已成为集成电路设计与生产代价的重要部分，现有的测试算法（如FAN算法）为避免复杂性采用的是单故障模型，随着电路集成度的提高，电路的故障行为往往是由多个故障同时作用所引起的，因此就必需研究多故障的测试技术，本项目即是开展这方面的研究，内容有：数字电路多故障的可测性、多故障的压.缩、多故障的测试生成方法等
项目摘要
项目成果
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数据更新时间：2023-05-31
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