电路的测试目前已成为集成电路设计与生产代价的重要部分,现有的测试算法(如FAN算法)为避免复杂性采用的是单故障模型,随着电路集成度的提高,电路的故障行为往往是由多个故障同时作用所引起的,因此就必需研究多故障的测试技术,本项目即是开展这方面的研究,内容有:数字电路多故障的可测性、多故障的压.缩、多故障的测试生成方法等
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数据更新时间:2023-05-31
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