低温绝缘材料局部放电特性与电老化机理的研究

低温下介质的绝缘特性已成为影响超导设备性能和运行可靠性的重要因素。低温下绝缘材料一般不存在通常意义的热老化问题。但在低温复合绝缘中，由于低温液体潜热小，容易产生气泡，而高分子材料由于低温收缩和低温脆性，容易产生裂纹，因此，低温绝缘材料的局部放电是导致材料电老化的主要原因。由于在低温环境下局部放电的产生、发展、最终导致绝缘击穿的过程将受到压力、电极特性、气泡运动方式等多种因素的影响，较之传统绝缘中发生的放电过程更为复杂。因此到目前还没有形成统一的检测和评价方法。本申请通过研究低温环境下典型绝缘材料的局部放电特性，以及不同类型、不同程度的放电对绝缘材料老化过程的影响，建立根据局部放电水平判断电老化程度的非破坏性方法，并给出提高低温绝缘材料抗电老化的技术措施。这些研究成果将有助于提高超导设备可靠性，对保证超导设备安全和稳定运行具有指导作用。