基于温度效应的光学薄膜吸收高分辨率成像技术研究

光热失调技术基于光学薄膜反射或透射光谱带因温度改变而发生漂移的温度效应，可以用来测量光学薄膜吸收损耗。该项目旨在对光热失调技术进行系统的分析，对实验的重复性、稳定性、可靠性以及误差分析等方面进行全面的研究。另外，对该技术中探测光波偏振性的选择等问题做出理论分析，提高该技术测量光学薄膜吸收的灵敏度。建立一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验装置，用于测量光学薄膜对入射光波的吸收和实现样品吸收损耗的二维成像，积极开展样品吸收损耗的高分辨率成像研究，并寻求其最佳分辨率。完成的实验装置能用于测量光学薄膜的吸收损耗和研究样品吸收的均匀性，为该技术的应用奠定理论和实验基础。由于该技术有望用于评价高功率激光系统中光学薄膜的质量，该项目研究对我国光学薄膜产业的发展具有重要意义。

光热失调技术基于光学薄膜反射或透射光谱带因温度改变而发生漂移的现象，可以用来研究光学薄膜对某激光波段的吸收情况。该项目旨在对光热失调技术进行全面详细的分析，讨论温度对薄膜反射或透射特性的影响、探测光波偏振性的选择、吸收损耗的绝对测量等问题，改善该技术测量光学薄膜吸收的灵敏度。建立一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验系统，实现仪器的自动控制和数据的自动采集、处理与显示，建立的实验系统能用于测量光学薄膜的吸收损耗和研究样品吸收的均匀性，实现样品吸收均匀性研究的高分辨率成像，为光热失调技术的进一步应用奠定理论和实验基础。该技术有望用于评价高功率激光系统中光学薄膜的质量，项目的研究对我国光学薄膜产业的发展具有重要意义。