综合孔径辐射计近场成像理论与应用研究

由于被动微波辐射探测具有穿透性强、不发射电波具有隐蔽性等特点，采用高分辨率微波辐射计进行近距离遥感探测的需要日益增长，但是由于高分辨率微波辐射计天线孔径较大，近距离探测时通常无法达到远场条件，常规的成像方法不再适用，特别是为了提高空间分辨率采用干涉式综合孔径技术时，现有的各种图像反演方法都不再适用。本项目将针对综合孔径辐射计近场成像理论展开研究，建立空间频率采样和观测距离之间的解析和数值关系，从而推导与观测距离相关的成像反演方法，在计算机模拟研究的基础上，利用现有综合孔径微波辐射计，开展试验研究，验证理论研究结果。