通过对力学、介电弛豫谱、铁电性的测量和高分辨电镜及同步辐射貌相、衍射方法,研究NVRAM用的几种铁电薄膜(PZT,SBT,STN等)以及几种类型的铁电晶体(KTP,LN,PMN)的畴和畴界结构、畴界动力学和玻璃化转化行为、极化反转和疲劳行为及其机理,并提出相应的理论模型进行计算机模拟,可为研制、开发性能优异的铁电晶体和薄膜材料提供科学依据。
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数据更新时间:2023-05-31
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