半导体表面铁薄膜面内磁各向异性的X射线磁性线二色研究

本课题应用软X射线磁性线二色吸收谱实验技术研究铁膜在半导体表面的磁特性。作为磁电友У难芯康悖現e/GaAs体系是一个很好的模型。但对于bcc铁存在单轴磁各向异性还没有明返奈锢砘啤Ｍü芯肯Ｍ钊肓私釬e膜的磁各向异性的微观起源。另一方面，该技术的ⅲ岷先鞽射线磁性圆二色吸收谱，为深入了解铁磁和反铁磁构成的复杂体系提供实验手段。