开关电流电路软故障测试与诊断理论及关键技术

开关电流电路测试与故障诊断是现代电路理论国际学术前沿和难点。本课题将深入研究开关电流电路测试与故障诊断理论与方法，探索性地研究面向深亚微米VLSI CMOS数字集成电路工艺开关电流电路软故障测试与诊断理论与方法，提出开关电流测试矢量快速生成理论与方法，提出新的开关电流故障模拟与响应分析理论与方法以及开关电流电路可测试性设计理论与方法，研发出具自主知识产权的开关电流模拟取样信号处理电路系统可测试性设计与分析软件。.所提出的新的开关电流测试与故障诊断理论与方法，特别是面向深亚微米CMOS工艺开关电流电路测试与诊断理论与方法,将满足开关电流电路对测试的急迫需要，并可拓广到开关电容模拟取样数据信号处理电路、混合信号系统和芯片集成系统（SOC）测试与诊断。研究成果对于模拟取样数据信号处理电路、模拟电路、模数混合电路和芯片集成系统（SOC）的正确与高效的设计与实现有极其重要的意义。